2016年 理工学部 シラバス - 電子工学科
設置情報
科目名 | デバイスプロセス技術 | ||
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設置学科 | 電子工学科 | 学年 | 4年 |
担当者 | 芦澤・高橋(芳) 他 | 履修期 | 後期 |
単位 | 2 | 曜日時限 | 木曜2 |
校舎 | 船橋 | 時間割CD | J42L |
クラス |
概要
学修到達目標 | 先端電子デバイス作製のための具体的プロセス・評価技術、について理解する。特に要素技術・手法の原理概観だけでなく、目標特性を有するデバイス形成にいたるまでに要する種々の技術を関連させた具体的知見を身につける。 |
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授業形態及び 授業方法 |
講義は板書と共に、適宜授業内容理解を助けるプリントを配布する。学習の理解を深めるために、進捗状況に合わせてレポートを課題とする。 |
履修条件 | 「量子力学基礎」「基礎電子物性」「電子物性工学」「量子物性工学」「半導体デバイス工学」、特に「光・電子機能マテリアル」「光・電子機能デバイス」を履修および単位取得していることが望ましい。 |
準備学習(予習・ 復習等)の内容 |
シラバスの内容を確認し、関連専門書で該当する箇所を熟読し、予習・復習を行う事。理解できない点を整理し、質問の準備をしておくこと。 |
授業計画
第1回 | 真空: 温度と圧力の関係、平均自由行程、コンダクタンス等 |
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第2回 | 真空: 真空ポンプ、真空ゲージ |
第3回 | 薄膜作製方法: MBE法、スパッタ法、PLD法(酸化物系材料)、CVD法(カーボン系材料) |
第4回 | 表面処理: 酸化物基板表面処理方法、熱処理方法 |
第5回 | 結晶成長: 酸化物薄膜結晶成長 ペロブスカイト系材料、カーボン系材料を例として |
第6回 | 半導体デバイスプロセス(1): 半導体基板,基板洗浄,酸化膜成長 |
第7回 | 半導体デバイスプロセス(2): リソグラフィー技術,エッチング技術 |
第8回 | 半導体デバイス評価: 組成分析(XPS, FT-IR),電気的特性評価(電流測定,電気容量測定) |
第9回 | クリーンルーム技術 |
第10回 | 薄膜作製方法・プラズマ: スパッタリング現象、プラズマの性質 |
第11回 | プラズマ物理 : プラズマ、火花条件、パッシェンの法則、シース、高周波放電 |
第12回 | 金属薄膜成長: 金属組織 熱平衡状態図を元にした結晶成長 |
第13回 | 磁性記録媒体作成(1): 多元スパッタ法による合金磁性超薄膜形成(希土類、遷移金属系フェリ磁性材料) |
第14回 | 磁性記録媒体作成(2): 反応性スパッタによる保護膜の形成、下地膜形成による媒体の機能性向上 |
第15回 | 磁性記録媒体評価 : 薄膜構造(SEM、TEM、AFM)、磁気物性評価(磁気光学、VSM、MFM) |
その他
教科書 |
使用しない
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参考書 |
伊藤隆司,石川元,中村宏昭 共著 『VLSIの薄膜技術』 電子材料シリーズ 丸善 1986年 第1版
小間篤,白木靖寛,斉木幸一朗,飯田厚夫 共著 『シリコンの物性と評価法』 電子材料シリーズ 丸善 1987年 第1版
麻蒔 立男 『薄膜作成の基礎』 日刊工業新聞社 2005年 第4版
佐藤 勝昭 (著), 深道 和明 (著), 五味 学 (著), 片山 利一 (著), 阿部 正紀 (著), 未踏科学技術協会 (編集), レアメタル研究会 (編集) 『光磁気ディスク材料ー基礎および次世代への展望』 工業調査会 1993年 第1版
後藤芳彦 『結晶成長』 内田老鶴圃 2003年 第1版
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成績評価の方法 及び基準 |
小テストおよび平常点(演習・宿題)により評価 |
質問への対応 | 随時、研究室にて対応。 |
研究室又は 連絡先 |
船橋校舎422(芦澤) 船橋校舎425(高橋) 船橋校舎421(塚本) 船橋校舎401(岩田) |
オフィスアワー |
火曜 船橋 12:30 ~ 13:10 船橋校舎422(芦澤)
火曜 船橋 12:00 ~ 13:00 船橋校舎425(高橋)
月曜 船橋 12:30 ~ 13:10 船橋校舎421(塚本)
金曜 船橋 09:00 ~ 16:00 船橋校舎401(岩田)
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学生への メッセージ |