日本大学理工学部

2017年 大学院理工学研究科 シラバス - 電子工学専攻

設置情報

科目名 電子物理計測・分析
設置学科 電子工学専攻 学年 1年
担当者 齋藤・喜々津 履修期 後期
単位 2 曜日時限 火曜5
校舎 駿河台 時間割CD J25A
クラス

概要

学修到達目標
授業形態及び
授業方法
準備学習(予習・
復習等)の内容・
受講のための
予備知識

授業計画

第1回
第2回
第3回
第4回
第5回
第6回
第7回
第8回
第9回
第10回
第11回
第12回
第13回
第14回
第15回

その他

教科書
加藤範夫 『X線回折と構造評価』 現代人の物理6 朝倉書店
Daniel Malacara監修 辻内順平訳 『光学実験・測定法 Ⅰ Ⅱ』 アドコム・メディア 2010年
Eric P. Goodwin, James C. Wyent, Field Guide to Interferometric Optical Testing, SPIE Press, 2006
参考資料コメント
及び
資料(技術論文等)
John C. Vickerman, Surface Analysis -The Principal Techniques-Ed., John Wiley & Sons
F.Jenkins & H.White, Fundamentals of Optics, International Student Edition
大西、堀池、吉原 編 『固体表面分析I』 講談社サイエンティフィク ISBN 4-06-153364-9
大西、堀池、吉原 編 『固体表面分析II』 講談社サイエンティフィク ISBN 4-06-153366-5
成績評価の方法
及び基準
質問への対応
研究室又は
連絡先
オフィスアワー  
学生への
メッセージ
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