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電子工学科 塚本新教授の東京大学および産業技術総合研究所との共同研究成果が「Science Advances」誌に掲載され、プレスリリースされました。

理工学部電子工学科の塚本新教授は、東京大学の石橋未央特任研究員(研究当時、現:東北大学材料科学高等研究所助教)、中辻知教授、林将光准教授らの研究グループ、産業技術総合研究所の薬師寺啓研究チーム長と共同で、次世代磁気メモリとして実用化が期待されている「レーストラックメモリ」の重要な性能指標であるビット操作のエラー率を決定する新たな手法を確立しました。研究成果は、「Science」の姉妹誌である「Science Advances」で発表され、プレスリリースされました。詳細は論文およびプレスリリースをご覧ください。

DOI

論文情報

雑誌名
Science Advances
論文タイトル
Decoding the magnetic bit positioning error in a ferrimagnetic racetrack
著者
Mio Ishibashi*, Masashi Kawaguchi, Yuki Hibino, Kay Yakushiji, Arata Tsukamoto, Satoru Nakatsuji and Masamitsu Hayashi*(*責任著者)
日付、巻号
23 Oct 2024 Vol 10, Issue 43
DOI
https://www.science.org/doi/10.1126/sciadv.adq0898